Equipment.com.ua
Головна / Oscilloscopes / Oscilloscope Probes / Tektronix TAP1500 Active Probe

Tektronix TAP1500 Active Probe

Tektronix TAP1500 активний зонд

Tektronix · Модель: TAP1500 На замовлення
Tektronix TAP1500 Active Probe
Запитати ціну

Tektronix TAP1500 active FET probe with 1.5 GHz bandwidth, 10X attenuation, 1 pF capacitance, and TekVPI interface for high-frequency oscilloscope measurements.

Модель TAP1500
Виробник Tektronix
Категорія Oscilloscope Probes
Наявність На замовлення

Огляд

Tektronix TAP1500 — активний FET зонд, розроблений для односторонніх вимірювань у високочастотних додатках. Він забезпечує низьке навантаження на коло та широку смугу пропускання, що робить його придатним для вимірювань цілісності сигналу на основі осцилографа та налагодження високошвидкісних схем.

Основні характеристики

  • Смуга пропускання 1.5 ГГц для захоплення високочастотних сигналів
  • Ослаблення 10X для універсальних діапазонів вимірювань
  • Ємність входу 1 пФ для мінімального навантаження на коло
  • Діапазон операцій 15V, сумісний зі стандартними осцилографами
  • Вхідний опір 1 МОм
  • Інтерфейс TekVPI для безперебійної інтеграції з осцилографами Tektronix
  • Кабель зонда довжиною 1.3 м зі стандартними з'єднувачами
  • Частина сімейства зондів Tektronix TAP

Застосування

  • Налагодження та валідація високошвидкісних цифрових схем
  • Вимірювання цілісності сигналу та часу
  • Усунення несправностей плати PCB на рівні плати
  • Дослідження та розроблення тестування
Bandwidth 1.5 GHz
Attenuation 10X
Input Capacitance 1 pF
Maximum Input Voltage 15 V
Input Impedance 1 MΩ
Interface TekVPI
Cable Length 1.3 m
Series TAP Series
Dimensions 0.19 x 0.31 x 2.30"
Operating Temperature Range 0-50°C
Relative Humidity Range 5-95%
Risetime 0.267 ns
Type Active Probe
Warranty 1 Year
Tektronix TAP1500 Active Probe

Запит ціни

Tektronix TAP1500 Active Probe

Відповідь протягом 24 годин
Без зобов'язань
Пряма комунікація

Надсилаючи форму, ви погоджуєтесь на обробку персональних даних відповідно до нашої політики конфіденційності.