Tektronix DSA70804C Digital Serial Analyzer

Огляд

Tektronix DSA70804C — високопродуктивний цифровий змішаний осцилограф, що пропонує до 8 ГГц смуги пропускання та можливості аналізу цілісності сигналів та послідовних протоколів на рівні індустрії. Як частина серії MSO/DPO70000, DSA70804C забезпечує одночасну роботу чотирьох каналів з частотою дискретизації в реальному часі до 25 GS/s та записами до 500 Мегазразків. Він розроблений для інженерів, які верифікують, характеризують, налагоджують та тестують складні електронні конструкції у вимогливих програмах аналізу цілісності сигналів.

Основні характеристики

• Аналогова смуга пропускання: 8 ГГц з можливістю вимірювання в реальному часі
• Одночасна робота чотирьох каналів
• Частота дискретизації: До 50 GS/s з підвищеною роздільною здатністю синхронізації
• Довжина запису: До 500 Мегазразків з MultiView Zoom™
• Частота захоплення хвилеформи: >300,000 waveforms/s на канал
• Pinpoint® тригеризація з точною кваліфікацією подій
• Візуальна тригеризація для пошуку унікальних подій у складних сигналах
• 6.25 Gb/s тригеризація послідовного сигналу в реальному часі для ізоляції NRZ та 8b/10b шаблонів
• Автоматизований аналіз послідовних даних для PCI Express, I2C, SPI, CAN, LIN, FlexRay, RS-232/422/485/UART, USB 2.0, HSIC, MIL-STD-1553B, MIPI C-PHY, D-PHY та M-PHY
• TriMode™ система зондування P7700, P7600 та P7500 з калібруванням на кінчику зонда
• Можливість iCapture® для перегляду аналогових характеристик цифрових каналів
• Опція SignalVu® для RF та векторного аналізу сигналів
• Можливість аналізу шини пам'яті DDR
• USB 2.0 порти (передня та задня панель), 10/100 Ethernet, Video Output

Застосування

• Верифікація проектування з урахуванням цілісності сигналів, джитеру та синхронізації
• Характеризація конструкцій для високошвидкісних складних розробок
• Тестування сертифікації потоків послідовних даних для стандартів індустрії
• Аналіз та налагодження шини пам'яті
• Верифікація включення прототипу та блоку живлення
• Дослідження та розслідування перехідних явищ
• Виробниче тестування складних систем
• Спектральний аналіз перехідних або широкосмугових RF сигналів