Stanford SR785 Dynamic Signal Analyzer
Stanford SR785 аналізатор динамічного сигналу
Запитати ціну
Stanford SR785 is a dual-channel dynamic signal analyzer with DC to 102.4kHz bandwidth, 90dB FFT dynamic range (145dB swept-sine), advanced FFT, octave, and order tracking analysis.
Деталі продукту
| Модель | SR785 |
| Виробник | Stanford |
| Категорія | RF & Microwave Signal Generators |
| Наявність | На замовлення |
Опис
Огляд
Stanford SR785 — це точний двоканальний аналізатор динамічного сигналу, що забезпечує найсучасніші характеристики для вимірювання механічних та електричних систем. Він поєднує можливості аналізатора спектра, аналізатора мережі, аналізатора вібрацій, октавного аналізатора та осцилографа в одному приладі з діапазоном від постійного струму до 102,4 кГц, динамічним діапазоном FFT 90 дБ та динамічним діапазоном swept-sine 145 дБ для виключної точності вимірювань.
Основні характеристики
- Двоканальна конфігурація з незалежним керуванням смугою пропускання та частотою на канал
- Смуга пропускання: від постійного струму до 102,4 кГц з придбаним в реальному часі безперервним збиранням даних
- Динамічний діапазон: 90 дБ (режими FFT та Octave), 145 дБ (режим Swept-Sine)
- Відслідковування порядку з дельта-порядком від 0,0075 до 1
- Октавний аналіз у реальному часі (1/1, 1/3, 1/12 октава) відповідно до стандарту ANSI S1.11-1986
- Декілька режимів вимірювання: FFT, Time/Histogram, Correlation, Octave, Swept-Sine, Order Tracking
- Вимірювання частотної характеристики, когеренції та спектральної щільності потужності
- Підгонка та синтез кривої 20-полюс/20-нуль
- До 32 МБ пам'яті з 2 або 8 Мвибірок за бажанням можливість захоплення
- Розширені функції маркерів, включаючи пошук піку, маркери гармонік, смуги та бічних смуг
- Інтерфейси GPIB та RS-232 для дистанційного керування та експорту даних
Застосування
- Механічна вібрація та модальний аналіз
- Характеризація систем керування та тестування частотної характеристики
- Діагностика машинного обладнання та виявлення несправностей
- Акустичні та шумові вимірювання з фільтрами зважування
- Аналіз передавальної функції та когеренції
- Аналіз гармонік енергосистеми та тестування якості
Характеристики
| Averaging | The SR785 comes equipped with a wide selection of averaging techniques to improve your signal-to-noise ratio. RMS averaging reduces signal fluctuations, while vector averaging minimizes noise from synchronous signals. Peak hold averaging is also available. Both linear and exponential averaging are provided for each mode. Because the SR785 is so fast, there's no need for a separate "fast averaging" mode. For instance, in a full-span FFT measurement with a 4 ms time record, 1000 averages take exactly 4 seconds, during which the SR785 still operates at its maximum display rate. For impact testing, the average preview feature allows each time record or spectrum to be accepted or rejected before adding it to the measurement. |
| Order Tracking | Order tracking is used to evaluate the behavior of rotating machinery. Measurement data is displayed as a function of multiples of the shaft frequency (orders), rather than absolute frequency. Combined with a waterfall plot, the SR785 provides a complete history or "order map" of your data as a function of time or rpm. Using the slice feature, the amplitude profile of specific orders in the map can be analyzed. In tracked order mode, the intensity of individual orders vs rpm is measured. Unlike other analyzers, there's no need to track a limited number of orders to ensure full speed measurements. The SR785's speed allows simultaneous tracking of up to 400 orders. Run-up and run-down measurements are available in both polar and magnitude/phase formats. RPM profiling is provided to monitor variations of rpm as a function of time. A complete selection of time and rpm triggering modes is included, allowing you to make virtually any rotating machinery measurement. |
| Octave Analysis | Real-time 1/1, 1/3 and 1/12 octave analysis, at frequencies up to 40 kHz (single channel) or 20 kHz (two channel), is a standard feature of the SR785. Octave analysis is fully compliant with ANSI S1.11-1986 (Order 3, type 1-D) and IEC 225-1966. Switchable analog A-weighting filters, as well as A, B and C weighting math functions, are included. Averaging choices include exponential time averaging, linear time averaging, peak hold, and equal confidence averaging. Broadband sound level is measured and displayed as the last band in the octave graph. Total power, impulse, peak hold and Leq are all available. Exponentially averaged sound power (Leq) is calculated according to ANSI S1.4-1983, Type 0. Octave displays can be plotted as waterfalls with a fast 4 ms storage interval. Once data is stored in the waterfall buffer, the SR785 can display centile exceedance statistics for each 1/1, 1/3 or 1/12 octave band, as well as for Leq. |
| Swept-Sine Measurements | Swept-sine mode is ideal for signal analysis that involves high dynamic range or wide frequency spans. Gain is optimized at each point in the measurement, producing up to 145 dB of dynamic range. A frequency resolution of up to 2000 points is also provided. Auto-ranging can be used with source auto-leveling to maintain a constant input or output level at the device under test (to test response at a specific amplitude, for instance). Auto-resolution ensures the fastest possible sweeps and adjusts the frequency steps in the scan based on the DUT's response. Phase and amplitude changes that exceed user-defined thresholds are measured with high frequency resolution, while small changes are measured using wider frequency steps between points. A choice of linear sweeps with high resolution, or logarithmic sweeps with up to eight decades of frequency range, is provided. |
| Time/Histogram | The time/histogram measurement group is used to analyze time-domain data. A histogram of the time data vs. signal amplitude is provided for accurate time domain signal characterization. Statistical analysis capabilities include both probability density function (PDF) and cumulative density function (CDF). The sample rate, number of samples, and number of bins can all be adjusted. |
| Time Capture | The SR785 comes with 8 Mbytes of memory (32 Mbytes optional). Analog waveforms can be captured at sampling rates of 262 kHz or any binary sub-multiple, allowing you to optimize sampling rate and storage for any application. For example, 8 Msamples of memory will capture 32 seconds of time domain data at the maximum 262 kHz sample rate, or about 9 hours of data at a 256 Hz sample rate. Once captured, any portion of the signal can be played back in any of the SR785's measurement groups except swept-sine. The convenient Auto-Pan feature lets you display measurement results synchronously with the corresponding portion of the capture buffer to identify important features. |
| Source | The SR785 comes with six precision source types: low-distortion (-80 dBc) single or two-tone sine waves, white noise, pink noise, chirp, and arbitrary waveforms. The chirp and noise sources can be bursted to provide activity over a selected portion of the time record for FFT measurements, or to provide impulse noise for acoustic measurements. The digitally-synthesized source produces output levels from 0.1 mV to 5 V plus DC offset from 0 to ±5 V, and delivers up to 100 mA of current. Arbitrary waveform capability is standard with the SR785. Use the arbitrary source to playback a section of a captured waveform, play a selected FFT time record, or upload your own custom waveform from your computer. |
Запит ціни
Stanford SR785 Dynamic Signal Analyzer
Відповідь протягом 24 годин
Без зобов'язань
Пряма комунікація