Keysight B2911A Блок джерела/вимірювання
Keysight B2911A Source Measure Unit
Keysight B2911A single-channel source/measure unit with 210V maximum voltage, 3A DC and 10.5A pulse current, 10 fA/100 nV resolution for semiconductor testing.
Деталі продукту
| Модель | B2911A |
| Виробник | Keysight |
| Категорія | LCR-метри та аналізатори імпедансу |
| Наявність | На замовлення |
Опис
Огляд
Keysight B2911A — компактний одноканальний прецизійний блок джерела/вимірювання, розроблений для універсальних завдань вимірювання IV, які вимагають високої точності та розширення. Забезпечує широкий діапазон вихідних даних ±210 В, ±3 А постійного струму та ±10.5 А імпульсної можливості з розширенням вимірювання до 10 фА для струму та 100 нВ для напруги. Інтегровані 4-квадрантні можливості генерування та вимірювання дозволяють точну електричну характеризацію різноманітних пристроїв без необхідності кількох приладів або складних настройок.
Одиниця має інтуїтивний 4.3-дюймовий кольоровий LCD дисплей з графічним та числовим режимами перегляду, що дозволяє швидку настройку та візуалізацію даних прямо з передньої панелі. Вбудована генерація довільної форми хвилі та можливості оцифрування з інтервалами 10 мікросекунд забезпечують значну гнучкість для динамічної електричної характеризації. Опції керування кількома програмами та підтримка команд SCPI дозволяють безперешкодну інтеграцію в автоматизовані середовища тестування та підтримку сумісності традиційних команд SMU.
Основні характеристики
- Одноканальна конфігурація з 4-квадрантним генеруванням та вимірюванням
- Максимум 210 В вихідного сигналу, 3 А постійного струму / 10.5 А імпульсного струму
- 10 фА/100 нВ джерело та розширення вимірювання
- Інтегровані 4-квадрантні можливості напруги та струму
- 4.3-дюймовий кольоровий LCD дисплей з графічним та числовим режимами
- Генерація довільної форми хвилі та оцифрування з інтервалами 10 мікросекунд
- Вимірювання високої пропускної спроможності з підтримкою команд SCPI
- USB, LAN, GPIB та цифровий ввід-вивід для гнучкої інтеграції
Застосування
- Характеризація оптичних пристроїв (лазерні діоди, фотодіоди)
- Тестування органічних пристроїв (OLED)
- Характеризація фотоелектричних елементів
- Тестування матеріалів нанотехнології
- Тестування пристроїв управління потужністю (LDO, регулятори)
- Характеризація напівпровідникових пристроїв (FET, транзистори, діоди)
- Тестування компонентів та дослідницько-розробницькі застосування
Характеристики
| High Frequency (range) | DC <= 1kHz |
Запит ціни
Keysight B2911A Блок джерела/вимірювання