Tektronix 5-DJA Advanced Jitter and Eye Diagram Analysis
Tektronix 5-DJA розширений аналіз jitter та діаграми очей
Tektronix 5-DJA provides advanced jitter analysis and eye diagram measurement with real-time capabilities, dual-Dirac decomposition, and spectral analysis for high-speed signal characterization.
Деталі продукту
| Модель | 5-DJA |
| Виробник | Tektronix |
| Категорія | Oscilloscope Accessories |
| Наявність | На замовлення |
Опис
Огляд
Опція Tektronix 5-DJA Advanced Jitter and Eye Diagram Analysis забезпечує галузевим лідерські чутливість та точність для аналізу цілісності сигналу в осцилографах реального часу. На основі перевіреного пакету Tektronix DPOJET для аналізу діаграми очей та jitter, ця опція інтегрує комплексне вимірювання jitter та аналіз безпосередньо в систему автоматичного вимірювання осцилографа. Вона спрощує виявлення проблем цілісності сигналу та джерел jitter у конструкціях послідовної, цифрової та комунікаційної системи високої швидкості.
Основні характеристики
- Базові вимірювання часу, включаючи період, частоту, час наростання/спадання, ширину імпульсу та коефіцієнт заповнення
- Аналіз Time Interval Error (TIE) та фазового шуму
- Графічні інструменти, включаючи гістограми, трендові діаграми та спектральні дисплеї
- Програмовна функція відновлення годинника з конфігурованою PLL
- Варійовані фільтри високих та низьких частот для вимірювання
- Аналіз діаграми очей у реальному часі з автоматичним виявленням бітової швидкості та шаблону
- Розширене розкладання jitter з використанням спектральних методів та методів Q-scale
- Видобування параметрів моделі dual-Dirac для аналізу jitter за галузевим стандартом
- Алгоритми bounded uncorrelated jitter (BUJ) для точних вимірювань Total Jitter
- Тестування маски діаграми очей та аналіз крива ванни
- Кілька типів графіків: часовий тренд, діаграма очей, гістограма, спектр, крива ванни та профіль SSC
Застосування
- Кількісна оцінка параметрів амплітуди та часу сигналу з аналізом запасу
- Налагодження складних вбудованих систем та інтерфейсів високої швидкості
- Характеризація конструкцій послідовної та паралельної шини високої швидкості
- Вимірювання jitter та шуму годинника/даних та оцінка цілісності сигналу
- Характеризація динамічної продуктивності PLL
- Аналіз модуляції схем розповсюдження спектрального годинника
- Оцінка генерування jitter, передачі та стійкості в конструкціях систем
Характеристики
| Jitter Measurement Methods | Spectral, Q-scale, dual-Dirac decomposition |
| Compatible Oscilloscope | Tektronix 5/6 Series MSO |
| Key Timing Measurements | Period, frequency, rise/fall time, pulse width, duty cycle, TIE, phase noise |
| Analysis Types | Eye diagram, jitter histogram, spectrum, bathtub curve, time trend, SSC profile |
| Clock Recovery | Programmable software PLL with configurable parameters |
| Special Algorithms | Bounded uncorrelated jitter (BUJ), dual-Dirac parameter extraction |
Запит ціни
Tektronix 5-DJA Advanced Jitter and Eye Diagram Analysis